Equipment catalog

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Name (Type)	Description

Fluorescence microscope Olympus IX71 (Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)	Short description : Inverse epifluorescence microscope Location : Boltzmann - a.+288 Person(s) resource(s) : Delphine Magnin, Karine Glinel, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
FTIR IN10 (Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)	Short description : FTIR coupled with microscope Location : Boltzmann - a.+288 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Infra Red Spectrometer (Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)	Short description : IR Location : Boltzmann - a.+216 Person(s) resource(s) : Sabine Bebelman, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Olympus AX70/Provis (Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)	Short description : Optical microscope Location : Boltzmann - a.-117.20 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
RAMAN (Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)	Short description : RAMAN Location : Boltzmann - a.+236 Person(s) resource(s) : Sabine Bebelman, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.

Cryo-ultra microtome Reichert 1 (Sample Preparation)	Short description : ultramicrotome Location : Boltzmann - a.-117.20 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Cryo-ultra microtome Reichert 2 (Sample Preparation)	Short description : ultra microtome Location : Boltzmann - a.-117.20 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Sputter (Carbon) (Sample Preparation)	Short description : sputter Location : Boltzmann - a.-117.20 Person(s) resource(s) : Colette Douchamps, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Sputter (Metal) (Sample Preparation)	Short description : chromium or gold or platine/palladium Location : Boltzmann - a.-117.20 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.

JEOL 7600F (Scanning Electron Microscopy (SEM))	Short description : Scanning electron microscope. Semi-Inlens secondary electron detector. Lateral secondary electron. Backscatted electron detectors (classical and LABE). EDX analysis. Nanolithography. Location : Boltzmann - a.-133 Person(s) resource(s) : Delphine Magnin, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
LEO 982 (Scanning Electron Microscopy (SEM))	Short description : Scanning electron microscope. InLens secondary electron detector. Lateral secondary electron detector. Location : Boltzmann - a.-131 Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.

Agilent 5500 (Scanning Probe Microscopy)	Short description : Multimode Scanning Probe Microscope Location : Boltzmann - a.-117.30 Person(s) resource(s) : Bernard Nysten, Cécile DHaese, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Icon Dimension (Scanning Probe Microscopy)	Short description : Multimode Scanning Probe Microscope Location : Boltzmann - a.+286 Person(s) resource(s) : Cécile DHaese, Bernard Nysten, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Multimode Nanoscope VIII Boltzmann (Scanning Probe Microscopy)	Short description : Multimode Scanning Probe Microscope Location : Boltzmann - a.-117.30 Person(s) resource(s) : Cécile DHaese, Sylvie Derclaye, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Multimode Nanoscope VIII Carnoy (Scanning Probe Microscopy)	Short description : Multimode Scanning Probe Micoscope Location : Carnoy - c.+480 Person(s) resource(s) : Sylvie Derclaye, Cécile DHaese, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.

LEO 922 (Transmission Electron Microscopy (TEM))	Short description : TEM, STEM, EDX, DRX, EELS Location : Boltzmann - a.-129 Person(s) resource(s) : Delphine Magnin, Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.