Bandeau Mica
UCL > SST > IMCN > Mica Platform

Equipment catalog


(Exporting a full PDF can take more than 30 seconds).


Name (Type) Description
Fluorescence microscope Olympus IX71
(Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)
Short description : Inverse epifluorescence microscope

Location : Boltzmann - a.+288

Person(s) resource(s) : Delphine Magnin, Karine Glinel,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Infra Red Spectrometer
(Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)
Short description : IR

Location : Boltzmann - a.+216

Person(s) resource(s) : Sabine Bebelman,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Olympus AX70/Provis
(Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)
Short description : Optical microscope

Location : Boltzmann - a.-117.20



Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
RAMAN
(Optical Resolution Microscopy & Micro-spectrometry)
Short description : RAMAN

Location : Boltzmann - a.+236

Person(s) resource(s) : Sabine Bebelman,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Cryo-ultra microtome Reichert 1
(Sample Preparation)
Short description : ultramicrotome

Location : Boltzmann - a.-117.20



Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Cryo-ultra microtome Reichert 2
(Sample Preparation)
Short description : ultra microtome

Location : Boltzmann - a.-117.20



Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Sputter (Carbon)
(Sample Preparation)
Short description : sputter

Location : Boltzmann - a.-117.20

Person(s) resource(s) : Colette Douchamps,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Sputter (Metal)
(Sample Preparation)
Short description : chromium or gold or platine/palladium

Location : Boltzmann - a.-117.20



Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
JEOL 7600F
(Scanning Electron Microscopy (SEM))
Short description : Scanning electron microscope. Semi-Inlens secondary electron detector. Lateral secondary electron. Backscatted electron detectors (classical and LABE). EDX analysis. Nanolithography.

Location : Boltzmann - a.-133

Person(s) resource(s) : Delphine Magnin,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
LEO 982
(Scanning Electron Microscopy (SEM))
Short description : Scanning electron microscope. InLens secondary electron detector. Lateral secondary electron detector.

Location : Boltzmann - a.-131

Person(s) resource(s) : Colette Douchamps,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Agilent 5500
(Scanning Probe Microscopy)
Short description : Multimode Scanning Probe Microscope

Location : Boltzmann - a.-117.30

Person(s) resource(s) : Bernard Nysten, Cécile DHaese,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Icon Dimension
(Scanning Probe Microscopy)
Short description : Multimode Scanning Probe Microscope

Location : Boltzmann - a.+286

Person(s) resource(s) : Cécile DHaese, Bernard Nysten,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Multimode Nanoscope VIII Boltzmann
(Scanning Probe Microscopy)
Short description : Multimode Scanning Probe Microscope


Location : Boltzmann - a.-117.30

Person(s) resource(s) : Cécile DHaese, Sylvie Derclaye,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
Bruker Multimode Nanoscope VIII Carnoy
(Scanning Probe Microscopy)
Short description : Multimode Scanning Probe Micoscope

Location : Carnoy - c.+480

Person(s) resource(s) : Cécile DHaese, Sylvie Derclaye,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
LEO 922
(Transmission Electron Microscopy (TEM))
Short description : TEM, STEM, EDX, DRX, EELS

Location : Boltzmann - a.-129

Person(s) resource(s) : Delphine Magnin,

Vous devez vous identifier pour obtenir davantage d'informations.
INTRANET ACCESS
LOGIN


PASSWORD


UCL Hors UCL



> Registration
> Forgotten Password ?
NEWS
No events scheduled.