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 Objectifs
Initiation critique des étudiants aux nouvelles méthodes d'analyse physique pour la caractérisation à l'échelle atomique des surfaces et interfaces solides.
Cahier des charges
- Introduction à la science des surfaces
- Spectrométries électroniques : LEED, AES, XPS
- Spectrométries ioniques : ISS, RBS, SIMS
- Pulvérisation ionique pour le profilage en profondeur.
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