5.00 crédits
30.0 h + 15.0 h
Q2
Enseignants
Delcorte Arnaud; Nysten Bernard;
Langue
d'enseignement
d'enseignement
Thèmes abordés
- Introduction à la science des surfaces ;
- Spectrométries électroniques (LEED, XPS, AES) et spectrométries ioniques (ISS, SIMS);
- Microscopies à sonde locale (STM, AFM).
Acquis
d'apprentissage
d'apprentissage
A la fin de cette unité d’enseignement, l’étudiant est capable de : | |
1 |
Contribution du cours au référentiel du programme AA : 1.1, 2.1, 2.3, 5.5 Acquis d'apprentissage spécifiques au cours a. Acquis d'apprentissage disciplinaires : Spectroscopies électroniques et ioniques : A l'issue du cours, l'étudiant sera capable de :
A l'issue du cours, l'étudiant sera capable :
|
Contenu
1. Introduction à la science des surfaces
2. Spectrométries électroniques et ioniques :
2.1. Structure cristalline de surface par LEED
2.2. Composition et chimie de surface avec XPS
2.3. Imagerie chimique et profil en profondeur par SIMS
2.4. Imagerie élémentaire à haute résolution avec Auger
2.5. Analyse de l'extrême surface par ISS
2.6. Analyse quantitative en Auger et XPS
2.7. Aspects fondamentaux en (cluster) SIMS
3. Microscopies à sonde locale
3.1. Microscopie et spectroscopie à effet tunnel
3.2. Microscopies de force atomique
3.2.1. Microscopies en mode contact : C-AFM, LFM, FMM, CS-AFM, PFM, ...
3.2.2. Microscopies en mode résonant : AM-AFM, FM-AFM, MFM, EFM, KPFM, ...
3.2.3. Aspects instrumentaux : scanner, sondes, artefacts, ...
2. Spectrométries électroniques et ioniques :
2.1. Structure cristalline de surface par LEED
2.2. Composition et chimie de surface avec XPS
2.3. Imagerie chimique et profil en profondeur par SIMS
2.4. Imagerie élémentaire à haute résolution avec Auger
2.5. Analyse de l'extrême surface par ISS
2.6. Analyse quantitative en Auger et XPS
2.7. Aspects fondamentaux en (cluster) SIMS
3. Microscopies à sonde locale
3.1. Microscopie et spectroscopie à effet tunnel
3.2. Microscopies de force atomique
3.2.1. Microscopies en mode contact : C-AFM, LFM, FMM, CS-AFM, PFM, ...
3.2.2. Microscopies en mode résonant : AM-AFM, FM-AFM, MFM, EFM, KPFM, ...
3.2.3. Aspects instrumentaux : scanner, sondes, artefacts, ...
Méthodes d'enseignement
Spectroscopies électroniques et ioniques :
9 cours magistraux de 2h00 (incluant 1h d'introduction générale sur la science des surfaces) et deux laboratoires illustrant des techniques choisies (aspects instrumentaux + interprétation des données ; des rapports sont demandés aux étudiants).
Microscopies à sonde locale (SPM) :
5 cours magistraux de 2h00 et deux laboratoires illustrant deux techniques de SPM. Pour ces laboratoires, les étudiants de 2nd Master sont encouragés à apporter leurs propres échantillons.
9 cours magistraux de 2h00 (incluant 1h d'introduction générale sur la science des surfaces) et deux laboratoires illustrant des techniques choisies (aspects instrumentaux + interprétation des données ; des rapports sont demandés aux étudiants).
Microscopies à sonde locale (SPM) :
5 cours magistraux de 2h00 et deux laboratoires illustrant deux techniques de SPM. Pour ces laboratoires, les étudiants de 2nd Master sont encouragés à apporter leurs propres échantillons.
Modes d'évaluation
des acquis des étudiants
des acquis des étudiants
Examen oral portant sur les compétences à acquérir
Rapports de laboratoire
Partie spectroscopie (Delcorte): Possibilité d'un séminaire à présenter devant le groupe (~1/2 des points de cette partie)
Rapports de laboratoire
Partie spectroscopie (Delcorte): Possibilité d'un séminaire à présenter devant le groupe (~1/2 des points de cette partie)
Autres infos
Il est recommandé d'avoir suivi le cours LMAPR2011 « Methods of Physical and Chemical Analysis » ou un équivalent.
Ressources
en ligne
en ligne
Bibliographie
Spectroscopies électroniques et ioniques :
- Dias présentées aux cours, disponibles sur Moodle
- Notes d'application des fabricants d'équipement
- Liste d'ouvrages de référence, que les étudiants peuvent trouver à la bibliothèque / au laboratoire
- Notes de cours évolutives (syllabus) disponible au SICI et sur Moodle
- Dias présentées aux cours, prospectus et notes d'application de fabricants d'équipement disponibles sur Moodle
Faculté ou entité
en charge
en charge
FYKI