En raison de la crise du COVID-19, les informations ci-dessous sont susceptibles d’être modifiées,
notamment celles qui concernent le mode d’enseignement (en présentiel, en distanciel ou sous un format comodal ou hybride).
5 crédits
30.0 h + 15.0 h
Q2
Enseignants
Delcorte Arnaud; Nysten Bernard;
Langue
d'enseignement
d'enseignement
Anglais
Thèmes abordés
- Introduction à la science des surfaces ;
- Spectrométries électroniques (LEED, XPS, AES) et spectrométries ioniques (ISS, SIMS);
- Microscopies à sonde locale (STM, AFM).
Acquis
d'apprentissage
d'apprentissage
A la fin de cette unité d’enseignement, l’étudiant est capable de : | |
1 |
Contribution du cours au référentiel du programme AA : 1.1, 2.1, 2.3, 5.5 Acquis d'apprentissage spécifiques au cours a. Acquis d'apprentissage disciplinaires : Spectroscopies électroniques et ioniques : A l'issue du cours, l'étudiant sera capable de :
A l'issue du cours, l'étudiant sera capable :
|
Contenu
1. Introduction à la science des surfaces
2. Spectrométries électroniques et ioniques :
2.1. Diffraction des électrons (LEED/RHEED)
2.2. Spectroscopie de photoélectrons (XPS/ESCA)
2.3. Spectroscopie/microscopie Auger (AES/SAM)
2.4. Spectroscopie de diffusion d'ions (ISS)
2.5. Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
3. Microscopies à sonde locale
3.1. Microscopie et spectroscopie à effet tunnel
3.2. Microscopies de force atomique
3.2.1. Microscopies en mode contact : C-AFM, LFM, FMM, CS-AFM, PFM, ...
3.2.2. Microscopies en mode résonant : AM-AFM, FM-AFM, MFM, EFM, KPFM, ...
3.2.3. Aspects instrumentaux : scanner, sondes, artefacts, ...
2. Spectrométries électroniques et ioniques :
2.1. Diffraction des électrons (LEED/RHEED)
2.2. Spectroscopie de photoélectrons (XPS/ESCA)
2.3. Spectroscopie/microscopie Auger (AES/SAM)
2.4. Spectroscopie de diffusion d'ions (ISS)
2.5. Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
3. Microscopies à sonde locale
3.1. Microscopie et spectroscopie à effet tunnel
3.2. Microscopies de force atomique
3.2.1. Microscopies en mode contact : C-AFM, LFM, FMM, CS-AFM, PFM, ...
3.2.2. Microscopies en mode résonant : AM-AFM, FM-AFM, MFM, EFM, KPFM, ...
3.2.3. Aspects instrumentaux : scanner, sondes, artefacts, ...
Méthodes d'enseignement
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Spectroscopies électroniques et ioniques :9 cours magistraux de 2h00 (incluant 1h d'introduction générale sur la science des surfaces) et deux laboratoires illustrant des techniques choisies (aspects instrumentaux + interprétation des données ; des rapports sont demandés aux étudiants).
Microscopies à sonde locale (SPM) :
5 cours magistraux de 2h00 et deux laboratoires illustrant deux techniques de SPM. Pour ces laboratoires, les étudiants de 2nd Master sont encouragés à apporter leurs propres échantillons.
Modes d'évaluation
des acquis des étudiants
des acquis des étudiants
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Examen oral portant sur les compétences à acquérir, rapports de laboratoire.
Autres infos
Il est recommandé d'avoir suivi le cours LMAPR2011 « Methods of Physical and Chemical Analysis » ou un équivalent.
Ressources
en ligne
en ligne
Bibliographie
Spectroscopies électroniques et ioniques :
- Dias présentées aux cours, disponibles sur Moodle
- Notes d'application des fabricants d'équipement
- Liste d'ouvrages de référence, que les étudiants peuvent trouver à la bibliothèque / au laboratoire
- Notes de cours évolutives (syllabus) disponible au SICI et sur Moodle
- Dias présentées aux cours, prospectus et notes d'application de fabricants d'équipement disponibles sur Moodle
Faculté ou entité
en charge
en charge
FYKI